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半導體芯片冷熱衝擊水蜜桃视频污在线观看方法高低溫衝擊水蜜桃视频污在线观看箱：
目的：
芯片在生產過程中，需要對其進行冷熱衝擊水蜜桃视频污在线观看。一般情況下，民用芯片的正常工作溫度範圍是 0℃-70℃，其他芯片性能更高，正常工作溫度範圍是 -55℃-125℃。以上溫度範圍都是芯片工作下的溫度範圍，當芯片不工作時，可以承受超過 200℃ 的焊接溫度。
試件：
將試件芯片通電置於置物架上;
根據要求設定水蜜桃视频污在线观看溫度:
首先對試件進行低溫水蜜桃视频污在线观看，再進行高溫水蜜桃视频污在线观看，循環次數依要求進行:記錄半導體芯片工作狀態下，在設定溫度下的相關參數，對產品分析，工藝改進以及批次的定向品質追溯提供確實的數據依據。
試件從低溫或是高溫水蜜桃视频污在线观看開始，不同標準有不同的解析。若水蜜桃视频污在线观看從低溫段開始，水蜜桃视频污在线观看結束在高溫段，若水蜜桃视频污在线观看從高溫段開始，結束在低溫段。為防止試件在水蜜桃视频污在线观看結束後表麵產品凝露，水蜜桃视频污在线观看結束在低溫段時需要增加烘幹恢複的過程，這樣就增加了水蜜桃视频污在线观看周期，建議水蜜桃视频污在线观看從低溫段開始，結束在高溫段。
溫度範圍：-65℃～150℃
低溫衝擊：-40℃，-55℃，-65℃
高溫衝擊：65℃，85℃，125℃
溫度衝擊時間小於3min，1min
溫度保持時間30min，60min
測試時間不能少於1000個循環
熱壓器/無偏壓 HAST測試 參考標準：JESD22-A118
溫度範圍：100℃～143℃
濕度範圍：70%RH～100%RH
壓力範圍：0.5kg～3.5kg
測試時間不能少於200小時，具體根據用戶實際要求，有些需要達到500小時到1000小時等不同時間
其他測試標準：GB/T 2423.1-2001 水蜜桃视频污在线观看A：低溫水蜜桃视频污在线观看方法，水蜜桃视频污在线观看B：高溫水蜜桃视频污在线观看方法，GJB 150.3-1986 高溫水蜜桃视频污在线观看， 低溫水蜜桃视频污在线观看， GB 11158《高溫水蜜桃视频污在线观看箱技術條件》， IEC60068-2-14 等測試標準。
